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四波剪切干涉技術(shù)原理：
剪切干涉技術(shù)基本原理是將待檢測的激光波前分成兩束，其中的一束相對(duì)于另一束橫向產(chǎn)生一些錯(cuò)位，兩束錯(cuò)位的光波各自保持完整的待測波前信息，相互疊合后，產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，CCD/CMOS相機(jī)會(huì)接收干涉圖樣，進(jìn)行相應(yīng)的計(jì)算分析，從而利用傅立葉變換的相關(guān)計(jì)算，分析出待測波前的相位分布，以及強(qiáng)度分布等。基于干涉條紋的疏密度敏感于波前的斜率，因此波前傳感器在探測波前的偏離范圍較傳統(tǒng)的哈特曼傳感器具有更大的優(yōu)越性。
波前傳感器的典型應(yīng)用
光在傳輸?shù)倪^程中會(huì)經(jīng)過不同的介質(zhì)，不同的介質(zhì)由于其構(gòu)成物質(zhì)的分布不均勻，從而導(dǎo)致光的波前產(chǎn)生各種各樣的變化，自適應(yīng)系統(tǒng)便應(yīng)運(yùn)而生。作為自適應(yīng)系統(tǒng)中重要的一環(huán)，波前傳感器的檢測精度，動(dòng)態(tài)范圍等等因素，都制約著自適應(yīng)系統(tǒng)最終的調(diào)制結(jié)果。由于剪切干涉波前分析儀具有分辨率高，探測精度高，探測速度快，操作簡便，可直接的三維顯示波前畸變的模式等優(yōu)點(diǎn)，目前已經(jīng)得到了廣泛的使用。
1、自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)實(shí)時(shí)波前探測
在自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)中利用Phasics波前傳感器檢測到準(zhǔn)確的波前畸變信息，反饋給波前校正系統(tǒng)以補(bǔ)償待測波前的畸變，從而可有效的降低湍流應(yīng)的影響，補(bǔ)償大氣湍流引起的光波相位擾動(dòng)。
2、激光光束性能、波前像差、M^2、強(qiáng)度等的檢測
激光光束質(zhì)量是激光器的一個(gè)重要的技術(shù)指標(biāo)參數(shù)，主要是指光束在傳播中橫截面的場強(qiáng)分布及變化，主要的參量包括：光束直徑，傳播模式，遠(yuǎn)場發(fā)散角，光斑方向漂移等。研究波前相位的畸變是分析激光裝置中腔鏡變形的主要依據(jù)，提高波前性能是提高光束質(zhì)量的重要手段。
波前分析儀可以用于激光波前的檢測，同時(shí)可以得到激光的光強(qiáng)分布和其他的激光光束質(zhì)量參數(shù)，為同時(shí)檢測激光波前和光束質(zhì)量提供了一種高精度，高靈敏度，實(shí)時(shí)3D顯示，簡便可行的新方法。
3、精密光學(xué)元器件檢測
隨著科技的進(jìn)步，人們對(duì)精密光學(xué)元器件的生產(chǎn)技術(shù)指標(biāo)要求越來越高，波前探測器能給精密的對(duì)光學(xué)元器件進(jìn)行檢測，實(shí)時(shí)得到準(zhǔn)確的監(jiān)測數(shù)據(jù)，對(duì)于精密光學(xué)元器件的生產(chǎn)無疑產(chǎn)生了一場新的技術(shù)革命。相對(duì)于傳統(tǒng)的干涉儀檢測光學(xué)元器件的波前，Phasics波前分析儀更適合像差、球差較大的非球面透鏡的檢測。波前分析儀具有無需標(biāo)準(zhǔn)件，體積小，精度高，數(shù)值孔徑大(可達(dá)0.75)，等優(yōu)點(diǎn)。
4、激光等離子體檢測分析
基于波前分析的四波剪切干涉技術(shù)，可實(shí)時(shí)檢測激光產(chǎn)生的等離子體的電子密度、模式及傳播方式?？蓪?shí)時(shí)的監(jiān)測等離子體的產(chǎn)生、擴(kuò)散過程，以及等離子體的品質(zhì)因數(shù)?？梢愿玫貫榭蛻粼趪娮煸O(shè)計(jì)、激光脈沖的照度、氣壓、均勻性等方面提供優(yōu)化的數(shù)據(jù)支持。
除此之外，波前分析儀還被廣泛的應(yīng)用于紅外、近紅外探測;平行光管/望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)的檢測與裝調(diào);衛(wèi)星遙感成像、生物成像、熱成像領(lǐng)域;球面、非球面光學(xué)元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡);虹膜定位像差引導(dǎo);大口徑高精度光學(xué)元器件檢測;激光通信領(lǐng)域;航空航天等領(lǐng)域。
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